富士通FRAM - 簡(jiǎn)介
FRAM(鐵電存儲(chǔ)器)具有像E
2PROM一樣的非易失性的優(yōu)勢(shì) ,在沒(méi)有電源的情況下可以保存數(shù)據(jù),用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。FRAM具有兩個(gè)產(chǎn)品系列,串行接口(I
2C,SPI)和并行接口產(chǎn)品。采用串行I/F的FRAM可以用E
2PROM或串行閃存來(lái)代替,而采用并行I/F的產(chǎn)品可以用低功耗SRAM或Pseudo SRAM (PSRAM)來(lái)代替。
富士通半導(dǎo)體集團(tuán)控制著FRAM的整個(gè)生產(chǎn)程序;在日本的芯片開(kāi)發(fā)和量產(chǎn)及組裝程序。富士通公司保證了FRAM產(chǎn)品的高質(zhì)量和穩(wěn)定供應(yīng)。自從1999年開(kāi)始,F(xiàn)RAM產(chǎn)品已經(jīng)連續(xù)供應(yīng)12年以上,并且正在為許多客戶提供所需的高可靠性。
PZT晶體結(jié)構(gòu)和FRAM工作原理
● 當(dāng)加置電場(chǎng)時(shí)就會(huì)產(chǎn)生極化。(鋯/鈦離子在晶體中向上或向下移動(dòng))
● 即使在不加置電場(chǎng)的情況下,也能保持電極。
● 兩個(gè)穩(wěn)定的狀態(tài)以"0"或"1"的形式存儲(chǔ)
存儲(chǔ)器分類中的FRAM
優(yōu)勢(shì)
與傳統(tǒng)存儲(chǔ)器相比,F(xiàn)RAM具有下列優(yōu)勢(shì):
非易失性
● 即使沒(méi)有上電,也可以保存所存儲(chǔ)的信息。
● 與SRAM相比,無(wú)需后備電池(環(huán)保產(chǎn)品)
更高速度寫(xiě)入
● 像SRAM一樣,可覆蓋寫(xiě)入
● 不要求改寫(xiě)命令
● 對(duì)于擦/寫(xiě)操作,無(wú)等待時(shí)間
● 寫(xiě)入循環(huán)時(shí)間 =讀取循環(huán)時(shí)間
● 寫(xiě)入時(shí)間: E
2PROM的1/30,000
具有更高的讀寫(xiě)耐久性
● 確保最大10
12次循環(huán)(100萬(wàn)億循環(huán))/位的耐久力
● 耐久性:超過(guò)100萬(wàn)次的 E
2PROM
具有更低的功耗
● 不要求采用充電泵電路
● 功耗:低于1/400的E
2PROM
表1. FRAM和其它器件間規(guī)格差異的比較表
表1. 與其它存儲(chǔ)器產(chǎn)品相比,F(xiàn)RAM的特性
|
FRAM |
E2PROM |
Flash |
SRAM |
存儲(chǔ)器類別 |
非易失性 |
非易失性 |
非易失性 |
非易失性 |
晶胞結(jié)構(gòu)*1 |
1T1C/2T2C |
2T |
1T |
6T |
數(shù)據(jù)改寫(xiě)方法 |
覆蓋寫(xiě)入 |
擦除+寫(xiě)入 |
扇面擦除+寫(xiě)入 |
覆蓋寫(xiě)入 |
寫(xiě)入循環(huán)時(shí)間 |
150ns*2 |
5ms |
10μs |
55ns |
耐久力 |
最大 1012(1萬(wàn)億次循環(huán)*3)*2 |
106(100萬(wàn)次循環(huán)) |
105(10萬(wàn)次循環(huán)) |
無(wú)限制 |
寫(xiě)入操作電流 |
5mA(典型值)*2 15mA(最大值)*2 |
5mA(最大值) |
20mA(最大值) |
8mA(典型值) |
待機(jī)電流 |
5μA(典型值)*2 50μA(最大值)*2 |
2μA(最大值) |
100μA(最大值) |
0.7μA(典型值) 3μA(最大值) |
富士通FRAM集成型產(chǎn)品
獨(dú)立存儲(chǔ)器(I2C/SPI/并行接口產(chǎn)品)
富士通半導(dǎo)體提供了獨(dú)立的存儲(chǔ)器,它具有FRAM的優(yōu)勢(shì),包括非易失性、高速讀寫(xiě)、低功耗和更高的讀寫(xiě)耐久性。你可以將其用于各種應(yīng)用,如移動(dòng)裝置,OA設(shè)備,數(shù)字電器和銀行終端等。